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Rasterkraftmikroskopie

AFM1

  • Worum geht's?
    Bestimmung der Oberflächentopographie von Mikro- und Nanostrukturen mit einem Rasterkraftmikroskop, Rauschmessungen, Messung der Adhäsionskraft zwischen Substrat und Cantileverspitze.
  • Wie wird's gemacht?
    Mittels Rasterkraftmikroskopie wird die Oberflächentopographie verschiedener Mikro- und Nanostrukturen bestimmt. In diesem Zusammenhang lernen die Studenten die unterschiedlichen Betriebsmodi (contact und non-contact mode) eines Rasterkraftmikroskops kennen und studieren anhand von Rauschmessungen den Einfluss von elektrischem und strukturellem Rauschen. Zum Abschluss wird mittels Kraft-Distanz Kurven die Adhäsionskraft zwischen Cantileverspitze und Substrat gemessen.
  • Was wird gelernt?
    Grundlegende Funktionsweise eines Rasterkraftmikroskops nach dem Lichtzeigerprinzip, verschiedene Betriebsmodi eines Rasterkraftmikroskops, Einfluss von elektrischem und strukturellem Rauschen, Bestimmung von Adhäsionskräften.
  • Wofür ist das interessant?
    Bestimmung des spezifischen Widerstands von elektrisch leitfähigen Nanostrukturen, Charaktersierung und Analyse von Mikro- und Nanostrukturen z.B. bei der Qualitätssicherung im Rahmen des Fertigungsprozesses von Computerprozessoren, Life-Science Anwendungen.


 

geändert am 13. November 2013  E-Mail: Webmasterkrellner@physik.uni-frankfurt.de

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Druckversion: 13. November 2013, 09:49
http://www.uni-frankfurt.de/fb/fb13/pi/veranstaltungen/fpraktikum/Rasterkraftmikroskopie.html